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Dispositifs et gabarits de test pour circuits intégrés

Les gabarits et dispositifs de test de circuits intégrés ARapidPrototype sont conçus pour des tests précis et fiables des circuits intégrés haute densité (1,32–1,2 mm) avec des tolérances de ± 0,002 po. Dotés d'une conception à broches unilatérales et d'une protection antistatique, ils prennent en charge des circuits intégrés de 40 x 50 mm à 510 x 508 mm et des cartes jusqu'à 6 mm d'épaisseur. Avec des vitesses allant jusqu'à 150 mm/s, ils offrent des solutions de test flexibles et personnalisées, garantissant des performances et une protection des circuits intégrés exceptionnelles.

ARapidePrototype

Pourquoi nous choisir pour personnaliser les montages de test de circuits intégrés

1. Personnalisation axée sur le client
Nous sommes spécialisés dans les montages de test de circuits intégrés personnalisés, adaptés aux besoins spécifiques des tests de semi-conducteurs. Nos montages prennent en charge des pas de circuits intégrés allant jusqu'à 1,2 mm avec une précision de ± 0,002″, des tailles allant de 40 x 50 mm à 510 x 508 mm et des épaisseurs de circuits imprimés allant jusqu'à 6 mm, ce qui est idéal pour les tests de circuits intégrés haute densité.
 
2. Produits diversifiés pour applications spécialisées  
Notre gamme comprend des bancs de test automatisés et multiports conçus pour répondre à des exigences de test spécifiques. Ces bancs excellent dans les tests fonctionnels et les évaluations de fiabilité, améliorant l'efficacité des tests tout en respectant les normes de haute fréquence et de précision.
 
3. Contrôle qualité et amélioration continue  
Nos luminaires conservent une stabilité de performance supérieure à celle du 95% après 3 000 cycles, ce qui nous distingue dans le secteur. Nous exploitons les retours de nos clients pour optimiser continuellement nos conceptions et ainsi anticiper les demandes du marché.
 
4. Soutien complet et durabilité  
Nous offrons un accompagnement complet, aidant nos clients à optimiser l'efficacité de leurs tests jusqu'à 30%. Engagés dans des pratiques respectueuses de l'environnement, nous utilisons des matériaux durables et des procédés de fabrication écologiques, témoignant de notre responsabilité envers le secteur.
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Dispositif de test de circuit intégré ARapidPrototype

Découvrez notre vitrine complète comprenant des prototypes et des composants méticuleusement conçus par notre clientèle estimée.
 
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Dispositif de test de circuits intégrés ARapidPrototype

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Qu'est-ce qu'un dispositif de test IC ?

Les montages de test pour circuits intégrés (CI) sont des outils spécialisés conçus pour des tests précis et fiables des circuits intégrés (CI). Nous proposons une gamme de montages, notamment des supports de test, des montages multiports, des montages automatisés, de simulation, d'analyse et de mesure, capables de réaliser des tests à grande vitesse jusqu'à 150 mm/s. Grâce à une conception haute précision de ± 0,002″ et à un brochage unilatéral, nos montages acceptent des CI au pas de 1,2 mm et des tailles allant de 40 x 50 mm à 510 x 508 mm, ainsi que des circuits imprimés jusqu'à 6 mm d'épaisseur. Tous les montages sont personnalisables, offrant une protection antistatique et optimisant la transmission du signal pour des tests efficaces et précis. Cette flexibilité et ces performances nous confèrent un avantage unique pour répondre à divers besoins de test.

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Catégories de dispositifs de test de circuits intégrés, choix de matériaux

Précision typique et applications industrielles

CatégorieDescriptionChoix des matériauxPrécision typiqueApplications industrielles
Dispositifs d'essai de lit de clousConvient aux tests de production de masse, fournissant des points de contact haute densité, idéal pour tester les circuits intégrés multibrochesAlliage d'aluminium, acier inoxydable, laitonTolérance géométrique : ± 0,01 mm, haute précision : ± 0,005 mmÉlectronique grand public, automobile
Fixations de cartes de sondePrincipalement utilisé pour les tests de plaquettes, doté de micro-sondes de haute précision, adaptées aux tests de broches de circuits intégrés finsAlliage d'aluminium, acier inoxydable, laitonTolérance géométrique : ± 0,01 mm, haute précision : ± 0,005 mmSemi-conducteur, microélectronique
Dispositifs de test fonctionnelsUtilisé pour tester les caractéristiques fonctionnelles des circuits intégrés, y compris les interfaces de test analogiques et numériques, adapté à divers besoins de testAlliage d'aluminium, acier inoxydable, plastiques techniques (POM, PEEK)Tolérance géométrique : ± 0,01 mm, haute précision : ± 0,005 mmTélécommunications, aérospatiale
Appareils de programmationUtilisé pour la programmation du micrologiciel et le test des circuits intégrés, adapté aux circuits intégrés programmables tels que les microcontrôleurs et les puces de mémoireAlliage d'aluminium, acier inoxydable, plastiques techniques (POM, PEEK)Tolérance géométrique : ± 0,01 mm, haute précision : ± 0,005 mmInformatique, appareils IoT
Fixations pneumatiquesUtilise un serrage pneumatique, adapté aux scénarios nécessitant un changement rapide des objets de testAlliage d'aluminium, acier inoxydable, laiton, plastiques techniques (POM, PEEK)Tolérance géométrique : ± 0,01 mm, haute précision : ± 0,005 mmDispositifs médicaux, équipements industriels

 

Le processus ARapidPrototype

Étape 1

Téléchargez votre conception

Il ne faut que quelques secondes pour télécharger vos fichiers de conception dans le formulaire de devis. Nous évaluons au moins 3 devis de partenaires de confiance et vous proposons le meilleur prix dans un délai d'un jour ouvrable.

Étape 2

Fabrication
 
Une fois le meilleur devis en termes de prix, de qualité et de rapidité sélectionné, nos partenaires de confiance se mettront au travail pour vous créer des pièces mécaniques de la plus haute qualité – et vos pièces seront fabriquées en quelques jours !

Étape 3

Assurance qualité
 
Notre équipe d'ingénieurs experts effectue deux étapes de contrôle qualité rigoureux pour assurer des inspections approfondies de vos pièces et garantir qu'elles sont correctes dès la première fois.

Étape 4

Livraison
 
Grâce à notre logiciel propriétaire et à nos équipes sur site, nous garantissons une livraison dans les délais et communiquons l'état du projet à chaque étape, de la commande à la livraison.

 

FAQ sur les gabarits et dispositifs de test de circuits intégrés

Un dispositif de test de circuits intégrés (CI) est un outil spécialisé conçu pour maintenir et connecter les circuits intégrés (CI) pendant les tests, garantissant ainsi des connexions électriques précises. Les dispositifs de haute qualité permettent des tolérances de positionnement de ± 0,002 pouce pour des tests précis.

  • Supports de test:Pour divers boîtiers IC.
  • Dispositifs de test multiports: Autoriser plusieurs connexions simultanément.
  • Dispositifs de test automatisés:Conçu pour les tests automatisés à grande vitesse.
  • Montages de simulation:Utilisé pour simuler différentes conditions opérationnelles.
  • Appareils d'analyse:Pour une analyse approfondie des performances du CI.
  • Appareils de mesure:Axé sur des mesures précises.

Les montages de test IC améliorent la précision, la répétabilité et l'efficacité des tests, réduisant le temps de configuration jusqu'à 30% et minimisant le risque d'endommagement des composants sensibles.

Tenez compte de facteurs tels que le pas du circuit intégré (généralement compris entre 0,4 mm et 1,5 mm), la taille (de 40 × 50 mm à 510 × 508 mm), l’épaisseur de la carte (jusqu’à 6 mm) et les exigences de test spécifiques telles que la vitesse et la précision.

Oui, les fabricants proposent souvent des options de personnalisation adaptées à des tailles et configurations de circuits intégrés spécifiques. La personnalisation peut inclure le choix des matériaux et des caractéristiques de conception spécifiques pour répondre à des besoins de test spécifiques.

La durée de vie des luminaires de qualité peut dépasser 3 000 cycles de test tout en maintenant une stabilité de performance supérieure à 95%, en fonction de l'utilisation et de la qualité du matériau.

 

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